首页> 外文OA文献 >Characterization and design of sequential circuit elements to combat soft error

【2h】

Characterization and design of sequential circuit elements to combat soft error

机译：对抗软错误的时序电路元件的表征和设计

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Hamed Abrishami; Safar Hatami; Massoud Pedram;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2008
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. An Efficient Design of Sequential Digital Circuits to Reduce Soft Errors in Nanoscale CMOS Technology [J] . K. Aditya, M. Sivakumar, B. K. V. Prasad, International Journal of Engineering Studies . 2012,第1期

机译：一种有效的顺序数字电路设计，可减少纳米级CMOS技术中的软错误
2. Robust Flip-Flop Circuit against Soft Errors for Combinational and Sequential Logic Circuits [J] . Taiki Uemura, Yoshiharu Tosaka, Hideya Matsuyama, Japanese journal of applied physics . 2009,第4issue2期

机译：健壮的触发器电路，可防止组合和顺序逻辑电路出现软错误
3. Effects of Total-Ionizing-Dose Irradiation on SEU- and SET-Induced Soft Errors in Bulk 40-nm Sequential Circuits [J] . R. M. Chen, Z. J. Diggins, N. N. Mahatme, IEEE Transactions on Nuclear Science . 2017,第1期

机译：总电离剂量辐照对40nm时序电路中SEU和SET引起的软错误的影响
4. Characterization and design of sequential circuit elements to combat soft error [C] . Abrishami Hamed, Hatami Safar, Pedram Massoud IEEE International Conference on Computer Design . 2008

机译：打击软误差的顺序电路元件的特征与设计
5. Design and analysis methodologies to reduce soft errors in nanometer VLSI circuits. [D] . Gill, Balkaran Singh. 2006

机译：设计和分析方法可减少纳米VLSI电路中的软错误。
6. Insulated transcriptional elements enable precise design of genetic circuits [O] . Yeqing Zong, Haoqian M. Zhang, Cheng Lyu, -1

机译：绝缘的转录元件可实现遗传电路的精确设计
7. Design as You See FIT: System-Level Soft Error Analysis of Sequential Circuits [O] . Daniel Holcomb, Wenchao Li, Sanjit A. Seshia 2010

机译：如您所见设计FIT：顺序电路的系统级软错误分析

Characterization and design of sequential circuit elements to combat soft error

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅